|
|||||||||||||||
|
For å registrere i Cristin må du være vitenskapelig eller administrativt ansatt.
|
|||||||||||||||
|
|||||||||||||||
|
|||||||||||||||
| Viser treff 1-1 av 1 |
|
|
||
| 1. | Aarholt, Thomas; Frodason, Ymir Kalmann; Prytz, Øystein. Imaging defect complexes in scanning transmission electron microscopy: Impact of depth, structural relaxation, and temperature investigated by simulations. Ultramicroscopy 2020 ;Volum 209. s. - UiO |
|